高斯计横向探头和轴向探头主要有以下区别：

结构形状：

横向探头：通常是薄长方型，这种形状有利于贴近被测物体表面，便于测量磁材表面磁场或微小间隙及一般开放式实地的磁场。

轴向探头：一般为圆柱状，其形状特点使其在一些特定场景下具有优势，如插入环形磁铁中心或螺线管中进行磁场测量。

测量方向：

横向探头：测量时，磁力线的方向与探头垂直，即横向探头主要用于测量垂直于探头轴线的磁场分量。

轴向探头：测量时，探头平行于磁场方向，用于测量沿探头轴线方向的磁场强度。

适用场景：

横向探头：适用于各类磁场、磁材的表面测量，以及空间较大的径向间隙磁场测量等。例如在检测永磁体表面磁场强度及气隙磁场强度时，横向探头可以方便地放置在磁体表面或间隙处进行测量。

轴向探头：主要用于环形磁铁中心磁场的测量、螺线管的磁场测量以及一些高度较大产品的外表面磁场测量等。比如在测量环形变压器的中心磁场时，轴向探头可以直接插入环形结构的中心进行测量。

测量精度：

横向探头：由于其形状和测量方式，在测量表面磁场时，如果磁场分布较为均匀，能够较好地反映表面磁场情况，但对于一些复杂的磁场分布，可能会受到探头尺寸和形状的影响，导致精度有所下降。

轴向探头：在测量沿轴向的磁场时，由于其结构和测量方向的一致性，对于均匀磁场的测量精度相对较高，但在一些非均匀磁场中，可能会因为探头不能完全覆盖磁场变化区域而影响精度。